Vorstellung der neuen SWIR-Zeilenkameras der Wave-Serie mit 1K- und 2K-Auflösung und GigE-Vision-Schnittstelle

JAI erweitert seine Wave-Serie um zwei neue leistungsstarke SWIR-Zeilenkameras: die WAL-1001-GE (1K) und die WAL-2001-GE (2K). Die neuen Modelle wurden für anspruchsvolle industrielle Inspektionsumgebungen entwickelt und kombinieren hochempfindliche kurzwellige Infrarot-Bildgebung mit einer GigE-Vision-Schnittstelle, was eine effiziente Datenübertragung und eine unkomplizierte Systemintegration ermöglicht.

Die Kameras wurden für zuverlässige Leistung unter schwierigen Bildgebungsbedingungen entwickelt und unterstützen die präzise Fehlererkennung, die Inspektion von Materialien unter der Oberfläche sowie die Materialunterscheidung in einer Vielzahl von Bildverarbeitungsanwendungen.

	WAL-1001-GE –  1K-SWIR-Zeilenkamera:   ✔ Auflösung von 1 × 1024 Pixeln ✔ Zeilenrate von bis zu 29 kHz (29.000 Zeilen/Sekunde) ✔ Große Pixel mit 12,5 µm × 12,5 µm ✔ GigE Vision-Schnittstelle
	WAL-2001-GE –  2K-SWIR-Zeilenkamera:   ✔ 2K-Auflösung (Pixel-Shift) ✔ Bis zu 40 kHz Zeilenrate (40.000 Zeilen/Sekunde) ✔ Große Pixel mit 12,5 µm × 12,5 µm ✔ GigE Vision-Schnittstelle

Hohe Empfindlichkeit und flexible Bildausgabe

Beide Kameramodelle basieren auf großen Pixeln mit einer Größe von 12,5 µm × 12,5 µm und bieten ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis sowie eine hervorragende Infrarotempfindlichkeit. Dies ermöglicht eine zuverlässige Bildgebung auch bei schlechten Lichtverhältnissen oder hohen Inspektionsgeschwindigkeiten. Mit einer Spitzenquantenausbeute von bis zu 83 % bieten die Kameras eine hohe Empfindlichkeit über das gesamte SWIR-Spektrum, ohne die Bildqualität zu beeinträchtigen.

Die Unterstützung für Mono-Ausgaben mit 8, 10, 12 und 14 Bit ermöglicht eine präzise Intensitätsdarstellung, sanftere Graustufenübergänge und eine verbesserte Messgenauigkeit in anspruchsvollen Inspektionsanwendungen.

Optimierte Leistung für die industrielle Inspektion

WAL-1001-GE
Die WAL-1001-GE verfügt über einen 12,8 mm breiten SWIR-Sensor mit großen quadratischen Pixeln von 12,5 µm, kombiniert mit einer GigE-Vision-Schnittstelle und einem Standard-C-Mount. Mit einer unterstützten Bildrate von bis zu 29 kHz bietet sie ein ideales Gleichgewicht zwischen Empfindlichkeit, Bildqualität und Durchsatz für eine Vielzahl von Inspektionssystemen.

WAL-2001-GE
Die WAL-2001-GE erweitert die Leistungsfähigkeit durch eine höhere Auflösung und schnellere Zeilenraten von bis zu 40 kHz. Sie nutzt eine Dual-Line-Architektur (2 × 1024 Pixel) mit einem Versatz von 0,5 Pixeln, um die Abtastdichte zu erhöhen. In Kombination mit dem Betrieb bei doppelter Zeilenrate ergibt sich eine äquivalente Pixelgröße von 6,25 µm × 6,25 µm und eine fast doppelt so hohe Auflösung im Vergleich zu herkömmlichen 1K-Zeilenkameras.

Dieses Design ermöglicht die zuverlässige Erkennung von Defekten im Subpixelbereich. Die Bildsynthese erfolgt in Echtzeit innerhalb der Kamera, wodurch keine externe Erfassungs-Hardware erforderlich ist. Dies vereinfacht die Systemarchitektur, reduziert die Latenz und ermöglicht ein unkompliziertes Upgrade von 1K- auf 2K-Auflösung ohne Änderungen an Optik, Beleuchtung oder Arbeitsabstand.

Entwickelt für ein breites Anwendungsspektrum

Die neuen SWIR-Zeilenkameras der Wave-Serie bieten leistungsstarke Bildgebung für ein breites Spektrum industrieller Inspektionsaufgaben:

	Sortieren und Klassifizieren von Obst und Gemüse Erkennen Sie Feuchtigkeit, Verunreinigungen und Fremdkörper und ermöglichen Sie gleichzeitig eine Klassifizierung nach Druckstellen, Reifegrad oder beginnender Schimmelbildung. Die SWIR-Bildgebung ermöglicht zudem die Unterscheidung zwischen optisch ähnlichen Produkten.
	Wafer-Inspektion Erkennen Sie durch thermische Belastung verursachte Risse unter der Oberfläche, prüfen Sie Beschichtungen und Rückstände, führen Sie Kanteninspektionen durch und ermöglichen Sie eine präzise Wafer-Ausrichtung durch die Visualisierung von Merkmalen durch das Silizium hindurch.
	Recycling Identifizieren und trennen Sie Kunststoffe wie PET, PE, PP und PS auf Hochgeschwindigkeitsförderbändern. Der SWIR-Kontrast ermöglicht zudem die Erkennung von schwarzen und dunklen Kunststoffen, die mit sichtbarer oder Nahinfrarot-Bildgebung schwer zu unterscheiden sind.
	Pharmazeutische Inspektion und Füllstandsprüfung Ermöglichen Sie die kontinuierliche Inspektion von Fläschchen, Ampullen und Blisterverpackungen auf Hochgeschwindigkeits-Produktionslinien und unterstützen Sie so die zuverlässige Füllstandsüberprüfung sowie die Erkennung fehlender oder defekter Produkte.
	Prüfung von Kunststoffversiegelungen Bietet eine zuverlässige Überprüfung der Heißsiegelbreite, der Siegelkonsistenz und der Siegelstärke bei transparenten oder undurchsichtigen Verpackungen, während Siegeldefekte wie Blasen, Falten und unsachgemäße Versiegelungen identifiziert sowie Verschlussstreifen und andere Merkmale erkannt werden, die mit der Bildgebung im sichtbaren Licht schwer zu erkennen sind.

Zuverlässiges Design und einfache Integration

Mit einer Sensorbreite von 12,8 mm unterstützen beide Kameras Standard-C-Mount-Optiken, was die Kompatibilität mit einer Vielzahl von Objektiven gewährleistet und die Systemintegration vereinfacht. Wie alle JAI-Kameras sind auch die neuen Wave-Modelle mit fortschrittlichen rauscharmen Designs und hochwertigen Komponenten ausgestattet und werden umfangreichen Wärme-, Stoß- und Vibrationstests unterzogen, um langfristige Zuverlässigkeit in industriellen Umgebungen zu gewährleisten.

Erweiterung der Wave-Serie

Zusätzlich zu den neuen Zeilenkameramodellen wird die Wave-Serie in Kürze um eine neue SWIR-Flächenkamera mit einer Auflösung von 1,3 MP erweitert. Dieses kommende Modell wird die SWIR-Bildgebungsmöglichkeiten auf ein breiteres Anwendungsspektrum ausweiten.