빠른 스캔 속도, 고해상도, 대형 5μm 픽셀 및 CoaXPress 2.0 인터페이스의 강력한 조합.
JAI는 Sweep 시리즈 고속 CMOS 라인 스캔 카메라 SW-16000TL-CXP4A 3라인 컬러 모델과 SW-16000M-CXP4A 흑백 모델을 새롭게 출시합니다.
JAI의 새로운 카메라 모델은 16K 해상도를 지원하며 대형 5μm 정사각형 픽셀 및 빠른 데이터 처리 속도를 제공하는 CoaXPress 4 x CXP-12 인터페이스를 탑재하고 있습니다. 고해상도 및 고속 데이터 처리를 지원하여 작은 형상의 디테일을 고속으로 검사하는 비전 시스템이 필요한 제조 공정에 이상적인 카메라입니다.
일반적인 애플리케이션:
일반적인 애플리케이션으로는 배터리 검사, 평면 패널 디스플레이 검사, 인쇄 회로 기판(PCB) 검사, 기타 고속 웹 및 인쇄 검사 애플리케이션 등이 있습니다. 차세대 라인 스캔 카메라는 3.5μm 픽셀이 탑재된 이전 세대의 16K 라인 스캔 카메라보다 훨씬 빠른 100kHz(컬러 모델) 및 277kHz(흑백 모델)의 스캔 속도를 제공합니다.
사양 하이라이트:
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SW-16000TL-CXP4A - 3라인 모델: ✔ 16K 해상도 (RGB 라인 3 x 16384).
✔ 향상된 광감도를 제공하는 5μm x 5μm 대형 픽셀. ✔ 수평 2x1 비닝(10μm x 5μm). ✔ 100 kHz 스캔 속도 및 4 x CXP-12 지원. ✔ 다목적 GPIO 옵션. ✔ 로터리 인코더 직접 연결. ✔ 스캔 재개 (역방향 카운터). ✔ 트리거 라인 지연. ✔ 기울어진 뷰 보정. ✔ 지능형 서브 픽셀 공간 보정.  |
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SW-16000M-CXP4A - 흑백 모델: ✔ 16K 해상도 (1라인 1 x 16384 픽셀). ✔ 향상된 광감도를 제공하는 5μm x 5μm 대형 픽셀.
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대형 5μm 정사각형 픽셀 및 픽셀 비닝을 통한 감도 향상:
대형 5μm x 5μm 픽셀이 탑재된 새로운 Sweep 카메라는 기존의 3.5μm x 3.5μm 픽셀 16K 라인 스캔 카메라보다 향상된 감광도를 제공합니다. 픽셀이 클수록 다이나믹 레인지가 커지고 신호 대 노이즈 비율이 높아져 이미지 품질이 향상됩니다. 또한 동일한 조명을 사용하여 검사 속도를 높이거나 낮은 강도의 조명을 사용하여 전력 소비를 줄여 비용을 절감할 수 있습니다. 2x1 수평 비닝(10μm x 5μm 픽셀 크기)을 통해 픽셀 크기를 늘려 감광도를 더욱 높일 수 있습니다.
CoaXPress 2.0 인터페이스를 통한 빠른 데이터 처리 속도:
CoaXPress v2.0 인터페이스는 CXP-6 및 CXP-12 구성을 지원하여 라인당 최대 12.5Gbps(4개 라인을 모두 사용하는 경우 총 50Gbps)의 데이터 처리 속도를 제공합니다. 이러한 높은 처리 속도는 고해상도와 빠른 스캔 속도가 필요한 애플리케이션에 매우 중요한 요소입니다. CoaXPress 인터페이스는 트리거링, 케이블을 통한 전원 공급, 최대 25m의 케이블 길이, 여러 대의 카메라를 단일 PC 프레임 그래버에 연결하는 기능과 같은 강력한 기능들을 제공합니다. 또한 낮은 지연 시간 및 지터를 통해 고속 산업 검사를 위한 안정적이고 신뢰할 수 있는 성능을 보장합니다.
다목적 GPIO 옵션 및 로터리 인코더 직접 연결:
카메라는 조명과 로터리 인코더를 유연하게 동기화하기 위한 다목적 GPIO 및 트리거 옵션을 제공하여 "스캔 재개" 및 "트리거 카운트에 따른 트리거 지연"과 같은 고급 기능을 지원합니다.
스캔 재개 기능: 이미지 캡처 중에 물체가 예기치 않게 정지하는 경우 물체의 방향이 바뀌면서 인코더 트리거가 카운트됩니다. 물체가 이전 위치로 돌아오면 카메라가 자동으로 중단된 지점부터 이미지 캡처를 재개합니다. 이 알고리즘을 통해 캡처 중 이미지 라인이 손실되는 것을 방지할 수 있습니다.
트리거 카운트에 따른 트리거 라인 지연: 이 기능을 통해 비전 시스템 설계자는 고정된 타이밍이 아닌 특정 트리거 인코더 카운트를 기준으로 트리거 지연을 설정할 수 있습니다. 이를 통해 컨베이어 벨트 시스템에서 트리거와 카메라가 동일한 위치에 있지 않을 경우 적합한 동기화를 제공하거나 컨베이어 속도가 변하는 상황에서 실시간 지연을 동적으로 조정하여 카메라가 최적의 순간에 이미지를 캡처할 수 있습니다.
지능형 서브 픽셀 공간 보정. (컬러 모델):
SW-16000TL-CXP4A 컬러 모델은 고급 알고리즘을 통한 지능형 서브 픽셀 공간 보정 기능으로 R-G-B 라인의 정확도를 조정할 수 있습니다. 이를 통해 완벽한 이미지 품질을 제공하고 고속 애플리케이션에서 작은 결함을 더욱 명확하게 감지할 수 있습니다. 이 기능을 통해 센서 라인 사이의 작은 물리적 갭으로 인한 정렬 불량(HALO)을 보정할 수 있습니다.
추가 기능:
추가 기능으로는 기울어진 뷰 보정(키스톤 보정), 관심 영역(ROI), 개별 RGB 게인 및 노출 제어, 라인 및 엣지 대비 향상을 위한 엣지 향상 기능, 색 공간 변환 및 픽셀 감도 보정(PRNU/ DSNU), 블랙 레벨 조정, 화이트 밸런싱, 음영 보정, 색수차 보정과 같은 이미지 처리 기능이 포함되어 있습니다.
카메라는 M-95 렌즈 마운트 및 효과적인 열 방출을 위한 방열판과 함께 제공됩니다.
애플리케이션 예시:
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배터리 검사 (흑백 버전): 안전, 에너지 밀도 보존, 조기 성능 저하 방지를 위해서는 결함 없는 배터리를 제공하는 것이 필수적입니다. 16K 라인 스캔 카메라를 사용하면 긁힘, 찌그러짐, 크레이터, 불순물, 기포, 구멍 등 전극 시트의 결함을 확인할 수 있습니다. |
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PCB 검사: Sweep SW-16000TL 모델은 베어 보드 검사, 골드 핑거 검사, 반도체 검사, 인쇄 회로 기판 조립(PCBA) 검사 등 다양한 PCB 제조 단계의 자동 광학 검사에 적합한 카메라입니다. |
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평면 패널 디스플레이 검사 JAI의 16K 카메라는 색상 정확도를 확인하고 데드 픽셀, 스크래치 및 기타 결함을 감지할 수 있어 평면 패널 및 디스플레이의 표면 검사에 이상적입니다. |
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인쇄 및 웹 검사: |
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유리 검사 (흑백 버전): 판유리 제조에서 비주얼 검사는 제품 품질을 보장하고 결함을 최소화하는 데 중요한 역할을 합니다. 주요 검사 프로세스로는 표면 결함 감지, 오염 및 이물질 식별, 엣지 품질 검사 등이 있습니다. |
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반도체 검사: 베어 웨이퍼의 미세 균열, 스크래치 등 결함 감지, 패턴 웨이퍼의 패턴 결함 검사, 포토마스크 정렬 검사, 반도체 패키지에 탑재된 칩 회로의 품질 및 결함 검사 등에 활용할 수 있습니다. |
추가 정보:
