JAI는 오늘 새로운 산업용 프리즘 기반 라인 스캔 카메라를 발표했습니다. 4센서 라인 스캔 기술이 탑재된 새로운 카메라 모델(SW-4010Q-MCL)은 3개의 개별 CMOS 센서를 통해 적색, 녹색 및 청색 이미지 데이터를 동시에 수집하며, InGaAs(인듐갈륨비소) 기술 기반의 4번째 센서를 통해 단파장 적외선(SWIR) 스펙트럼의 이미지 데이터를 수집할 수 있습니다.
JAI의 기존 Sweep+ 시리즈인 3-CMOS R-G-B 및 4-CMOS R-G-B-NIR 라인 스캔 카메라에 새로운 SW-4010Q-MCL 모델이 추가되어 멀티 스펙트럼 이미징 대역이 SWIR 전자기파까지 확장되었습니다.
4 센서 카메라 "Sweep+"의 장점
품질 수준 보장을 위해 가시광선과 SWIR을 모두 사용하는 이미징이 필요한 머신 비전 시스템의 경우, SW-4010Q-MCL 카메라를 통해 싱글 검사 루틴으로 가시광선/SWIR 이미지를 제공할 수 있습니다. 동일한 산업용 카메라에 CMOS와 InGaAs 이미지 센서를 결합하여, 3개의 CMOS 센서를 통해 가시광선 데이터(400~700nm)를 수집하는 고급 색상 검사를 수행하는 동시에 4번째 InGaAs 센서를 통해 800nm~1700nm 범위의 이미지 데이터를 얻을 수 있습니다.
3개 CMOS 라인 센서는 각각 4096픽셀의 해상도, 7.5μm x 7.5μm의 픽셀 크기, 30.72mm의 센서 폭, 20.6kHz의 최대 풀 해상도 스캔 속도를 지원합니다. InGaAs 라인 센서는 1024픽셀의 해상도, 25µm 정사각형 픽셀, 25.6mm의 센서 폭, 39kHz의 풀 해상도 스캔 속도를 지원합니다.
Xscale 기능은 두 센서 유형 사이의 시야(FOV)와 스캔 속도를 조화시키는 데 적용할 수 있습니다
JAI의 특수 버전 픽셀 크기 조정 기능(Xscale)을 사용하면 4개의 센서가 모두 동일한 FOV(선폭 25.6mm)와 동일한 스캔 속도(39kHz)를 갖도록 카메라를 쉽게 재설정하고 가시광선 채널의 해상도를 자동으로 2048픽셀(12.5µm 픽셀) 또는 1024픽셀(25µm 픽셀)로 조정할 수 있습니다.
Sweep+ 라인 스캔 카메라는 머신 비전 시스템에서 가시광선과 SWIR 범위의 검사가 모두 필요한 경우 이상적인 선택입니다
SW-4010Q-MCL 모델에는 색상 변환 기능이 내장되어 있어 필요한 경우 색상 출력을 HSI 또는 CIE XYZ 색상 형식으로 제공할 수 있으며, 표준 RGB에서 sRGB, Adobe RGB 색상 공간 또는 사용자가 정의한 맞춤형 RGB 변환 매트릭스로 변환할 수 있습니다
기타 기능으로는 4개 채널의 개별 게인 및 셔터 제어, 듀얼 스트림 데이터 출력(개별 데이터 스트림에서 RGB 및 SWIR), 트리거 및 인코더 제어, 노이즈 감소 필터 등이 포함되어 있습니다.
가시광선 및 SWIR 채널의 초점 유지에 최적화된 멀티 스펙트럼 렌즈(별도 판매)
또한 JAI는 가시광선과 SWIR 광을 모두 처리할 수 있는 최적화된 특수 렌즈를 별도로 판매합니다. 카메라에는 듀얼 Mini Camera Link 인터페이스와 M52 렌즈 마운트가 장착되어 있습니다.
Sweep+ 시리즈 R-G-B-SWIR 카메라를 활용하기 적합한 애플리케이션
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과일 및 채소 검사 과일 및 채소 검사 시 색상, 익은 정도, 손상, 껍질 속 부패 징후 확인 및 이물질(예: 돌, 금속 조각 등) 감지를 동시에 진행할 수 있습니다. |
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반도체/웨이퍼 검사 |
| 제약 검사 완성된 패키지의 외관(컬러 인쇄 및 패키지 완성도 확인)을 검사하는 동시에 불투명 플라스틱 패키지 및 용기를 통해 정확한 용량 또는 채움 레벨을 검사합니다. |
| 배터리 검사 결함 없는 배터리는 안전, 에너지 밀도 및 조기 성능 저하 방지를 위해 매우 중요합니다. 라인 스캔 카메라를 사용하여 전극 시트의 긁힘, 찌그러짐, 크레이터, 불순물, 기포 및 구멍과 같은 결함을 확인할 수 있습니다. |
기타 응용 프로그램
컬러 타일 및 직물(염색된 직물이 추가 처리를 위해 충분히 건조되었는지 확인) 등의 제조와 관련된 다양한 웹 검사 애플리케이션에서 활용될 수 있습니다.
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