このたびJAIは、Sweepシリーズをさらに拡充し、8Kトライリニア、8Kモノクロ、16Kモノクロの3機種のラインスキャンカメラを新たにラインアップに加えました。これにより、システムインテグレーターやマシンビジョンのプロフェッショナルに向けて、高解像度撮像が求められるアプリケーションにおいて、より多様な選択肢をご提供します。
8Kモデル: SW-8001TL-MCL / SW-8001M-MCL
新しい8Kトライリニアおよびモノクロモデルは、高感度・高速度・高解像度の撮像性能を実現します。トライリニアモデルは、R・G・B各ラインに8,192画素 (3 × 8,192)、33kHzでのスキャンに対応しており、精密なカラー検査に最適です。モノクロモデルは、2 × 8,192画素のライン構成で、最大100kHzという高速スキャンを実現しています。両モデルとも、7μm角の高感度画素を搭載し、Camera Linkインターフェースに対応しています。
|
|
|
|
SW-8000M-PMCL と新モデル SW-8001M-MCL の比較
既存のSW-8000M-PMCLは、引き続き幅広い用途において安定した性能を発揮しますが、新しいSW-8001M-MCLは、進化する検査ニーズに対応するために設計された最新機能を備えています。どちらのモデルも、優先順位や要件に応じて独自の強みを発揮します。
| SW-8000M-PMCL | SW-8001M-MCL | |
| 解像度 | 1 x 8,192 | 2 x 8,192 |
| センサ | Elite8K | GL7008 |
| 画素サイズ | 3.75µm x 5.78µm | 7µm x 7µm |
| ラインレート | 100kHz | 100kHz |
| 水平ビニング | 対応 | 対応 |
| 垂直ビニング | 対応 | 非対応 |
| 2ステップTDI | 非対応 | 対応 |
| レンズマウント | F | M72 |
| PoCL (Power over Camera Link) | 対応 | 非対応 |
16K モデル: SW-16001M-MCL
新しい16Kモノクロモデルは、2 × 16,384画素の高解像度、50kHzのスキャンレート、そして3.5μm角のコンパクトな画素で、Camera Linkインターフェースに対応しています。
|
|
SW-16000M-CXP4A と新モデル SW-16001M-MCLの比較
昨年発売されたSweep 16Kラインスキャンカメラ (SW-16000M-CXP4A) と比較して、新しいSW-16001M-MCLはより手頃な価格で、よりコンパクトなモデルです。
| SW-16000M-CXP4A | SW-16001M-MCL | |
| 解像度 | 1 x 16,384 | 2 x 16,384 |
| センサ | GL5016 | GL3516 |
| 画素サイズ | 5µm x 5µm | 3.5µm x 3.5µm |
| ラインレート | 277kHz | 50kHz |
| 水平ビニング | 対応 | 対応 |
| 垂直ビニング | 非対応 | 非対応 |
| 2ステップTDI | 非対応 | 対応 |
| レンズマウント | M95 | M72 |
| サイズ (ヒートシンク含む) | 187mm x 115mm x 78.8mm |
78 mm x 78mm x 44,6mm |
| インターフェース | 4レーンCoaXPress-12 | Camera Link |
新しい8K／16K Sweepシリーズ ラインスキャンカメラの主な特長
多様な画像検査用途に対応した設計
|
|
印刷・パッケージ検査 新しいSweepシリーズカメラモデルは、あらゆる印刷・パッケージ検査に適しており、色ムラ (8Kトライリニアモデル) 、不均一、色ズレ、過剰印刷や印刷不足、文字や数字の欠落、印刷の位置ズレなどの検出が可能です。 |
|
|
フィルム検査 欠陥のないフィルムは、バッテリーの安全性と性能において極めて重要です。新しいJAIラインスキャンカメラモデルは、傷、気泡、コーティング不良、異物、端割れなどを確実に検出し、バッテリー製造工程における信頼性の高いフィルム検査を実現します。 |
|
|
ガラス検査 8Kおよび16Kの新しいラインスキャンカメラは、表面の傷やひび割れ、厚みの均一性測定、色・透明度の評価 (8Kトライリニアモデル) 、縁の欠けや割れの検出、コーティングの不具合や形状のズレなどを網羅的に検査できるため、総合的なガラス検査に最適です。 |
|
|
紙・表面検査 紙製品の製造においては、目視検査が製品品質の確保と欠陥の最小化において重要な役割を果たします。主な紙の検査項目には、表面の擦り傷、穴、汚れ、色や厚みのばらつき、水分痕 (moisture mark) などがあります。 |
|
|
PCB 検査 新しいSW-8001TL-MCLは、完成したベアボードの外観検査 (AVI検査) に最適です。 よく見られる欠陥には、緑色パッドの混在、銅箔の露出、表面のへこみ、浮き銅箔 (raised copper)、白濁したソルダーレジスト (whitish solder mask)、パターンブリッジの断裂、エッジの欠けなどがあります。 一方で、モノクロモデル (SW-8001M-MCLおよびSW-16001M-MCL) は、回路層のエッチングおよび洗浄後の欠陥検出に適しています。 主なPCB検査項目には、ショート、オープン、ノッチ、ピンホール、銅スラグ、ライン幅不良、ライン間隔の誤差、ホールリング (パッド周辺) の欠陥、パターン欠落などが含まれます。 |
製品に関するお問い合わせ:
Sweepシリーズの新しい8Kおよび16Kラインスキャンカメラに関するご質問や追加情報のご希望がございましたら、お問い合わせフォームよりご連絡ください。