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新世代の16Kトライリニア・カラーラインスキャンカメラ

高速スキャンレート、高解像度、5µm x 5µmの大きなピクセル、CoaXPress 2.0インターフェースの強力な組み合わせが特徴



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この度、JAIは高速CMOSラインスキャンカメラSweepシリーズの新製品として、トライリニアカラーモデルSW-16000TL-CXP4AとモノクロモデルSW-16000M-CXP4Aをリリースすることを喜んでお知らせいたします。

JAIの新しいカメラモデルは、16Kの解像度と5µm x 5µmの大きなピクセルを備え、CoaXPress 4 x CXP-12インターフェースと組み合わせることで、高いスループットを実現しています。このカメラは、高解像度と高速接続を併せ持っているため、小さな対象物の細部検査を高速で行うことが求められる用途に最適です。

アプリケーション
典型的なアプリケーションには、バッテリー検査、フラットパネルディスプレイ検査、プリント基板(PCB)検査、その他の高速連続ウェブ検査・印刷用途が含まれます。この新世代ラインスキャンカメラは、スキャンレートが100kHz(カラーモデル)および277kHz(モノクロモデル)で、わずか3.5 μmピクセルの 旧世代16Kラインスキャンカメラよりもはるかに高速です

仕様概略:

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SW-16000TL-CXP4A  - トライリニアモデル:

16Kラインスキャン解像度(16384 x 3、RGBライン)
5 μm x 5 μmの高感度画素
水平2x1ビニング(10 μm x 5 μm まで)
4 x CXP-12を使用した100kHzのスキャンレート
多目的GPIOとトリガオプション
ロータリーエンコーダへの直接接続
スキャン再開機能(逆方向カウンタ)
画像出力遅延 (ImageOutputDelay)
傾き補正
 サブピクセル単位の空間補正

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SW-16000M-CXP4A  - モノクロモデル:

 
16Kラインスキャン解像度(16384 x 3、RGBライン)
5 μm x 5 μmの高感度画素
水平2x1ビニング(10 μm x 5 μm まで)
4 x CXP-12を使用した277kHzのスキャンレート
多目的GPIOとトリガオプション
ロータリーエンコーダへの直接接続
スキャン再開機能(逆方向カウンタ)
画像出力遅延 (ImageOutputDelay)
傾き補正

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5µm x 5µmの大画素とピクセルビニングで感度を向上
新しいSweepカメラの画素サイズは5μm x 5μmと大きく、市場にある3.5μm x 3.5μmの小さな画素を搭載した他の16Kラインスキャンカメラと比較して、感度が向上しています。画素が大きくなると、信号雑音比が向上するため、画質だけでなくダイナミックレンジも向上します。さらに、同じ光量で検査速度を高速化したり、消費電力を抑えた低照度の照明を使用したりすることで、コストを削減することも可能です。2x1 水平ビニング(ピクセルサイズ10μm x 5μm)でピクセルサイズを大きくすることにより、感度をさらに上げることができます。

CoaXPress 2.0インターフェースを使用した高速データスループット
CoaXPress v2.0インターフェースは、CXP-6とCXP-12をサポートし、1ラインあたりの最大データスループットは12.5Gbpsです(4ライン合計で50Gbps)。高いスループットは、高解像度と高速スキャンが求められる用途において重要です。CoaXPressインターフェースには、トリガ、PoCXP、最大25mのケーブル長、複数のカメラを1台のPCフレームグラバーに接続するなどの堅牢な機能も搭載されています。低レイテンシーとジッターで、高速工業検査における信頼性の高い安定したパフォーマンスを実現します。

多目的GPIOとトリガとロータリーエンコーダへの直接接続:
このカメラは、照明やロータリーエンコーダなどと柔軟に同期させるための多目的GPIOとトリガオプションを備えており、「スキャンの再開」や 「画像出力遅延」などの高度な機能をサポートしています。

スキャン再開機能: 画像取得中に対象物が予期せず停止した場合、対象物が逆方向に移動した分のエンコーダトリガがカウントされます。対象物が反転を始める前の位置に戻ったら、カメラは撮像を中断した場所から自動的に画像のキャプチャを再開します。このアルゴリズムは、画像取得中の画像ラインの欠落を防ぐのに役立ちます。

画像出力遅延:固定されたタイミングではなく、特定のトリガカウントに基づいて画像出力をマスクできるようにします。この機能により、トリガとカメラがベルトコンベア上の同じ位置にない場合や、コンベアの速度が変化する場合にカメラとの同期が可能となり、リアルタイム遅延が動的に調整され、最適な瞬間に画像を撮像できるようになります。

サブピクセル単位空間補正(カラーモデルのみ)
SW-16000TL-CXP4Aカラーモデルには、R-G-Bラインの精度を調整する高度なサブピクセル空間補正アルゴリズムが搭載されています。これにより、高画質が保証され、高速アプリケーションにおいて対象物の微小な欠陥を検出する能力が向上します。センサライン間の微小な物理的分離に起因するずれ(HALO効果)を補正します。

追加機能:
その他の機能には、傾き補正、 ROI、RGBラインごとのゲインと露光の制御、ラインとエッジのコントラストを向上させるエッジ強調、色空間変換、ピクセル感度補正(PRNU/DSNU)、黒レベル調整、ホワイトバランス、シェーディング補正、色収差補正などがあります。

このカメラのレンズマウントはM-95です。また、効果的に放熱するためのヒートシンクが付属しています。

アプリケーション

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バッテリー検査(モノクロ)
安全性を確保し、エネルギー密度を維持し、早期劣化を防ぐためには、バッテリーを完璧な状態に保つことが重要です。16Kラインスキャンカメラは、傷、凹み、クレーター、不純物、気泡、穴など、電極シートの欠陥を検出するために使用できます。 

Markets-Electronics-PCB-Inspection-325x200px PCB検査
SW-16000TLカメラは、ベアボード検査、ゴールドフィンガーチェック、半導体検査、プリント基板組立(PCBA)検査など、PCB製造のさまざまな段階における自動光学検査に最適です。
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印刷検査・ウェブ検査
Sweep SW-16000TLは、金属シート、カラータイル、織物などの製造に関連する印刷検査や、各種ウェブ検査の作業にも適しています。

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ガラス検査(モノクロ)
フラットガラス製造では、目視による検査が製品品質を確保し、欠陥を最小限に抑える上で重要な役割を果たしています。主な検査工程には、表面欠陥の検出、汚染物質と異物の識別、エッジ品質のチェックなどがあります。

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半導体検査
このカメラは、ベアウェハーの微細な割れや傷などの欠陥を検出するために使用できます。また、パターン欠陥やフォトマスクの位置決めといったパターンウェハーの検査、半導体パッケージ内のチップ回路の品質・欠陥検査も可能です。
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