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title: Waveシリーズ 新型SWIRラインスキャンカメラのご紹介
description: JAI の新しい SWIR ラインスキャンカメラをご紹介します。1K / 2K 解像度、GigE Visionインターフェース、高感度性能を備え、産業現場での各種検査やマシンビジョン用に最適のハイクオリティな画像処理を実現します。
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- Waveシリーズ 新型SWIRラインスキャンカメラのご紹介
# Waveシリーズ 新型SWIRラインスキャンカメラのご紹介
By [JAI](https://news.jai.com/jp/author/jai) | 6月 4, 2026
JAIは、高性能SWIRラインスキャンカメラの新モデル、WAL-1001-GE（1K）とWAL-2001-GE（2K）の2機種を新たにラインナップに加えることで、Waveシリーズを拡充します。過酷な産業現場での検査向けに設計されたこれら新製品は、高感度SWIRイメージングとGigE Visionインターフェースを組み合わせることで、効率的なデータ転送と既存システムへの容易な組み込みを実現します。
厳しい撮像環境下でも信頼性の高い性能を発揮するように設計された新モデルは、マシンビジョン分野の幅広い用途において、正確な欠陥検出、表面下検査、素材の識別を実現します。
|  | **WAL-1001-GE – 1K SWIR ラインスキャンカメラ ** ✔ 1 × 1024ピクセルの解像度 ✔ 最大 29 kHz のラインレート（29,000 ライン/秒） ✔ 12.5 µm × 12.5 µm の大型画素 ✔ GigE Visionインターフェース [](https://cta-redirect.hubspot.com/cta/redirect/3919337/ce16a466-2407-400f-8307-47225989c549) |
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|  | **WAL-2001-GE – 2K SWIR ラインスキャンカメラ ** ✔ 2K解像度（ピクセルシフト） ✔ 最大40 kHzのラインレート（40,000ライン/秒） ✔ 12.5 µm × 12.5 µmの大型画素 ✔ GigE Visionインターフェース [](https://cta-redirect.hubspot.com/cta/redirect/3919337/4ab00131-a6ec-47a0-b3f5-ea7436a76052) |
高感度かつ柔軟な画像出力
両機種とも12.5 µm × 12.5 µm の大型画素を採用しており、高い S/N 比と優れた赤外線感度を実現しています。これにより、低照度環境や高速検査時でも、信頼性の高い画像撮影が可能です。最大 83% のピーク量子効率により、画質を損なうことなく、SWIR スペクトル全域で高い感度を発揮します。
モノクロ8ビット、10ビット、12ビット、14ビット出力に対応で、要求の厳しい検査用途において、正確な輝度表現、滑らかなグレースケール階調、および測定精度の向上を実現します。
産業現場の検査向けに最適化された性能
WAL-1001-GE
WAL-1001-GEは、12.5 µm × 12.5 µm の大型画素から成る12.8mm幅のセンサとGigE Vision インターフェース、標準 C レンズマウントで構成されています。最大29 kHzのラインレートで、幅広い検査システムにおいて感度と画質とスループットの理想的なバランスを実現します。
WAL-2001-GE
WAL-2001-GEは、より高い解像度と最大40 kHzの高速ラインレートにより、性能をさらに向上させています。0.5ピクセルのオフセットによるデュアルラインアーキテクチャ（2 × 1024ピクセル）を採用し、サンプリング密度を高めています。 さらにラインレートを 2 倍にして動作させることで、画素サイズ 6.25 µm × 6.25 µm に匹敵する性能を実現し、従来の 1K ラインスキャンカメラと比較して解像度をほぼ 2 倍に高めています。
この設計により、サブピクセルレベルの欠陥も確実に検出できます。また、画像合成はカメラ内でリアルタイムに行われるため、外部キャプチャボードは不要です。これによりシステム構成が簡素化され、遅延が低減されるほか、光学系、照明、設置距離を変更することなく、1K 解像度から 2K 解像度へのアップグレードが容易になります。
幅広い用途に対応
Waveシリーズ新型SWIRラインスキャンカメラは、幅広い産業界の検査タスクにおいて高性能なイメージングを提供します。
| .jpg?width=325&height=200&name=Market_SWIR-fruit-and-vegetable-350-x-200%20(1).jpg) | *果物や野菜の選別、等級分け* 水分、汚染、異物の検出に加え、打痕、熟度、初期のカビ発生に基づく等級分けを可能にします。また、SWIRイメージングにより、視覚的に類似した製品間の識別も可能になります。 |
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| .jpg?width=325&height=200&name=Market_SWIR-wafer-inspection-350-x-200%20(1).jpg) | *ウェハ検査* 熱応力によって表面下に生じた亀裂の検出、コーティングや残留物の検査、エッジ検査に加え、シリコン透過による微細構造の可視化を通じて、ウェハの精密な位置合わせを実現します。 |
| .jpg?width=325&height=200&name=Market_SWIR-Recycling-350-x-200%20(1).jpg) | *リサイクル資源分別* 高速コンベア上で、PET、PE、PP、PSなどのプラスチックを識別します。また、SWIRに対するコントラストの違いにより、可視光や近赤外線イメージングでは判別が困難な黒色や暗色のプラスチックも検出可能です。 |
| .jpg?width=325&height=200&name=Market_SWIR-Fill-level-350-x-200%20(1).jpg) | *製薬検査、充填レベル検査* 高速生産ライン上のバイアル、アンプル、ブリスター包装の連続検査を可能にし、内容物の充填レベルの検証や、欠品・不良品の検出を可能にします。 |
|  | *プラスチック包装検査* パッケージのヒートシール検査を、素材が透明か不透明かを問わず、連続生産ライン上で確実に実施できます。可視光画像では識別が困難な気泡、シワ、密着不良、開封用テープ部の異常といった封緘不良の検出が可能になります。 |
信頼性の高い設計、容易な導入
新モデルはいずれもセンサ幅 12.8 mm で、標準的な C マウントレンズに対応しているため様々なレンズとの使用が可能で、既存システムへの組み込みも容易です。これまでの JAI 全製品と同様、新モデルも洗練された低ノイズ設計と高品質コンポーネントを採用して製造されており、過酷な産業環境下でも長期に安定した性能を維持できるよう、徹底した耐熱、耐衝撃、耐振動試験をクリアしています。
Waveシリーズのラインナップ強化
今回のラインスキャンカメラ新モデルに続き、1.3 メガピクセル解像度 新型 SWIR エリアスキャンカメラも間もなくシリーズに加わる予定です。この新モデルにより、SWIR イメージングを活用できる場面がさらに広がる見込みです。
### お問い合わせ
新しいWaveシリーズについてのご質問や詳しいご案内などは、[お問い合わせフォーム](https://insights.jai.com/ja/contact-a-jai-engineer?hsCtaTracking=cba33ca0-430b-42b2-9577-4ad4377d961d%7Ce13d10c5-0ad9-4a17-9c65-41da31850db9&_gl=1*m7en66*_gcl_au*MTI5Mjc3OTI5Ni4xNzc4MTEyNDQy*_ga*MTExMzczNTU1MS4xNzYyMzA2MTY5*_ga_2CNRYDSN7K*czE3Nzg0NjM0NTgkbzE5NCRnMSR0MTc3ODQ2MzUxMiRqNiRsMCRoMjM1NDMzOTcw)から承ります。
**Topics:**
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